تقنيات معالجة الإشارة لتحليل التداخل الكهرومغناطيسي المحسن مع مستقبلات الاختبار

مقدمة:
يعد تحليل التداخل الكهرومغناطيسي (EMI) ضروريًا لضمان التوافق الكهرومغناطيسي للمعدات والأنظمة الإلكترونية. EMI الحديثة مستقبلات الاختبار استخدام طرق معالجة الإشارات المعقدة لتحسين موثوقية وسرعة تحليل التداخل الكهرومغناطيسي ، وذلك بفضل التقدم التكنولوجي.

في هذه القطعة ، سنذهب إلى طرق معالجة الإشارات المختلفة المستخدمة جنبًا إلى جنب مع مستقبلات الاختبار لمزيد من الدقة تحليل EMI. يمكن للمهندسين تحسين وظائف وموثوقية المعدات الإلكترونية باستخدام هذه الأساليب لاكتشاف تداخل EMI وتحليله والقضاء عليه.

تحويل فورييه وتحليل الطيف:
يعد تحويل فورييه أحد أكثر الطرق الأساسية المستخدمة في تحقيق التداخل الكهرومغناطيسي (EMI). يسمح تحويل الإشارة من المجال الزمني إلى مجال التردد للمهندسين بتقييم المكونات الطيفية للإشارة.

من أجل إجراء تحليل فوري للطيف ، EMI مستقبلات الاختبار الاستفادة من تحويل فورييه السريع (FFT) وخوارزميات تحويل فورييه الأخرى ذات الصلة. تجعل هذه التقنية من الممكن عرض تكوين تردد الطيف الكهرومغناطيسي وتحديد مصادر التداخل.

النوافذ:
باستخدام تقنية النوافذ ، يكون المرء قادرًا على تحسين دقة التحليل الطيفي مع تقليل التسرب الطيفي في نفس الوقت. قبل إجراء تحويل فورييه للإشارة المكتسبة ، من الشائع أن تستفيد مستقبلات اختبار EMI أولاً من وظائف النوافذ مثل Hamming و Hanning و Blackman.

الانعطاف هي تقنية تساعد على تعزيز التحليل الطيفي واكتشاف إشارات التداخل ضيقة النطاق عن طريق تقليل أهمية تأثير انقطاع الإشارة عند حواف النافذة.

تحليل الطيف:
من أجل توفير صورة كاملة لخصائص الإشارة عبر الزمن ، يشتمل تحليل المخطط الطيفي على بيانات من كل من المجال الزمني ومجال التردد. يمكن للمهندسين فحص التركيب الطيفي للإشارة بمرور الوقت باستخدام تحويل فورييه قصير المدى (STFT).

يتمتع المهندسون بقدرة أفضل على اكتشاف التداخل العابر أو المتقطع مع استخدام أدوات تحليل مخطط الطيف المضمنة في مستقبلات اختبار EMI.

التصفية الرقمية:
يتم ترشيح الإشارات رقميًا لإزالة الضوضاء أو التداخل غير المرغوب فيه في الخلفية. تُستخدم المرشحات الرقمية بما في ذلك المرشحات ذات التمرير المنخفض والمرشحات عالية التمرير ومرشحات تمرير النطاق ومرشحات الشق في EMI مستقبلات الاختبار للتركيز على نطاق تردد ضيق. تعمل التصفية على تحسين دقة تحليل التداخل الكهرومغناطيسي من خلال تسهيل اكتشاف وتقييم المكونات الطيفية المرتبطة بمصادر التداخل الكهرومغناطيسي.

كشف وتصنيف الذروة:
لتحديد وتسمية الارتفاعات أو القمم الجديرة بالملاحظة في طيف التردد ، نستخدم طرق اكتشاف الذروة. من أجل تحديد ومراقبة أعلى قمم السعة بمرور الوقت ، تستخدم مستقبلات اختبار EMI طرقًا مثل ذروة الانتظار وخوارزميات البحث القصوى.

يتمتع المهندسون بقدرة أفضل على تركيز جهود التخفيف من خلال التمييز بين مكونات الإشارة العادية ومصادر التداخل الكهرومغناطيسي المحتملة بفضل هذه الطريقة في تصنيف القمم بناءً على خصائصها.

تحليل المجال الزمني:
يتطلب فهم السلوك الزمني لإشارات التداخل الكهرومغناطيسي كلاً من مجال التردد والبحث في المجال الزمني. يتم توفير مقاييس المجال الزمني مثل عرض النبضة ووقت الصعود ومعدل التكرار بواسطة مستقبلات اختبار EMI ، مما يسمح بتحديد مصادر التداخل العابر أو الاندفاعي وتوصيفها.

يعد تحليل النطاق الزمني أداة مفيدة للمهندسين في تحديد إلى أي مدى تؤدي أحداث EMI إلى تدهور وظائف المعدات الإلكترونية والتخطيط لاستراتيجيات التخفيف.

تحليل احصائي:
يمكن للمهندسين الآن استخلاص رؤى مفيدة من مجموعات ضخمة من بيانات EMI باستخدام طرق التحليل الإحصائي. وظائف كثافة الاحتمال (PDF) ، وظائف التوزيع التراكمي (CDF) ، واختبار الفرضيات الإحصائية ليست سوى عدد قليل من الطرق الإحصائية المستخدمة من قبل EMI مستقبلات الاختبار لفحص السمات الإحصائية لإشارات التداخل الكهرومغناطيسي.

باستخدام الإحصائيات ، يمكننا وضع رقم على تأثير مشاكل EMI وأنماط البقعة وتحديد ما يشكل انتهاكًا للوائح EMC. LISUN لديها أفضل المعدات لاختبار EMI.

الارتباط والارتباط المتبادل:
تُستخدم إجراءات الارتباط والارتباط المتبادل أثناء إجراء تحقيق في الارتباط الموجود بين إشارتين أو عند مقارنة الإشارات التي تم الحصول عليها من عدد كبير من القنوات. تستخدم مستقبلات اختبار EMI خوارزميات الارتباط والارتباط المتبادل من أجل تحديد أوجه التشابه أو الأنماط في إشارات الاختبار.

قد يستخدم المهندسون هذا النهج لتحديد مصادر الانبعاثات التوافقية أو الزائفة بشكل أكثر دقة ، والتي ترتبط ببعضها البعض ولكنها تنشأ من مكونات منفصلة لجهاز أو نظام إلكتروني.

خوارزميات معالجة الإشارات المتقدمة:
في عالم اليوم ، يمكن الاعتماد على تحليل التداخل الكهرومغناطيسي (EMI) إلى حد أكبر من أي وقت مضى بسبب إدخال خوارزميات معالجة الإشارات المعقدة في EMI مستقبلات الاختبار. باستخدام تقنيات مثل التصفية التكيفية ، وفصل المصدر الأعمى ، والتحويلات المويجة ، يستطيع المهندسون استخراج المعلومات القابلة للاستخدام من إشارات التداخل الكهرومغناطيسي المعقدة.

تستخدم هذه التقنيات لتقليل أو إزالة الضوضاء أو التداخل في الإشارات. إذا تبنى المهندسون هذه التقنيات المتطورة ، فيمكنهم زيادة قدرتهم على اكتشاف وتحديد مصادر EMI ، حتى في البيئات الصعبة أو الصاخبة.

التعرف على الأنماط وتعلم الآلة:
عند إجراء تحليل EMI باستخدام مستقبلات الاختبار ، فقد أصبح من الممارسات القياسية للاستفادة من التعرف على الأنماط والتعلم الآلي. من بين هذه التقنيات توجيه أجهزة الكمبيوتر لاكتشاف وتصنيف إشارات التداخل الكهرومغناطيسي وفقًا لبصمات الأصابع المميزة للإشارات نفسها.

يمكن لمستقبلات اختبار EMI أن تفرق تلقائيًا بين إشارات التشغيل النموذجية وأحداث التداخل بفضل استخدام أساليب التعلم الآلي. لا يؤدي هذا إلى تسريع التحليل فحسب ، بل يشير أيضًا إلى مصادر التداخل الأكثر احتمالية.

متوسط ​​الإشارة:
تم تحسين نسبة الإشارة إلى الضوضاء للتداخل الكهرومغناطيسي المسجل باستخدام متوسط ​​الإشارة ، وهي طريقة لمعالجة الإشارة. يمكن للمهندسين اكتشاف إشارات التداخل الضعيفة أو المتقطعة بشكل أفضل من خلال حساب متوسط ​​الالتقاطات المتكررة لنفس الإشارة للتخلص من الضوضاء العشوائية.

من أجل زيادة حساسية ودقة قياسات EMI ، خاصة في ظروف EMI منخفضة المستوى أو المتقطعة ، EMI مستقبلات الاختبار تحتوي على قدرات متوسط ​​الإشارة.

المراقبة والتصور في الوقت الحقيقي:
تعد المراقبة والتصور في الوقت الفعلي من المكونات الأساسية لمعالجة الإشارة عند استخدام مستقبلات اختبار EMI. من الممكن للمهندسين رؤية نتائج الدراسة في الوقت الفعلي ، مما يوفر نظرة ثاقبة لوجود مصادر EMI ، وطبيعة الترددات المنبعثة من تلك المصادر ، وكيف تتغير هذه الترددات بمرور الوقت.

تجعل المراقبة في الوقت الفعلي من الممكن تحديد حالات التداخل الكهرومغناطيسي (EMI) بشكل استباقي وإصدار أحكام فورية بشأن أكثر الاستراتيجيات فعالية للتخفيف من آثاره.

ما بعد المعالجة والتقرير:
بعد إجراء دراسة لإشارات EMI ، قد يستفيد المهندسون من خدمات ما بعد المعالجة وإعداد التقارير التي تقدمها أجهزة استقبال اختبار EMI. تساعد هذه الأنشطة المهندسين في ترتيب البيانات وعرضها.

من بين هذه القدرات إنتاج تقارير مفصلة ، وتصدير المعلومات في مجموعة متنوعة من الأشكال ، وجعل البيانات في متناول الدراسة الجماعية. يمكن للمهندسين اتباع نهج أكثر علمية لدراسة EMI بفضل أدوات المعالجة اللاحقة ، والتي تسمح بتسجيل الملاحظات ومراقبة الاتجاهات ومقارنة البيانات من العديد من عمليات الاختبار.

الخلاصة:
تحسين تحليل EMI باستخدام مستقبلات الاختبار بفضل طرق معالجة الإشارات ، سمحت للمهندسين باكتشاف التداخل الكهرومغناطيسي وتحليله والتحكم فيه بشكل أفضل. يستطيع المهندسون الحصول على معلومات مفيدة من إشارات EMI باستخدام تقنيات مثل تحويل فورييه ، والنوافذ ، وتحليل الطيف ، والتصفية الرقمية ، وتحديد الذروة ، وتحليل المجال الزمني ، والتحليل الإحصائي ، والارتباط ، والخوارزميات المعقدة ، والتعرف على الأنماط ، والتعلم الآلي.

باستخدام هذه الأساليب ، يمكن للمهندسين تحديد أصول التداخل الكهرومغناطيسي ، وتصنيف أحداث التداخل ، وقياس تأثيرها ، وتصميم إجراءات مضادة فعالة. يوفر الدمج المستمر لطرق معالجة الإشارات الحديثة في مستقبلات اختبار EMI مزيدًا من الدقة والكفاءة والموثوقية في اختبارات التوافق الكهرومغناطيسي في ضوء التعقيد المتزايد باستمرار لمشكلات التداخل الكهرومغناطيسي.

Lisun تم العثور على Instruments Limited بواسطة LISUN GROUP في 2003. LISUN تم اعتماد نظام الجودة بشكل صارم من قبل ISO9001: 2015. كعضو في CIE ، LISUN تم تصميم المنتجات بناءً على CIE و IEC ومعايير دولية أو وطنية أخرى. حصلت جميع المنتجات على شهادة CE ومصادق عليها من قبل مختبر الطرف الثالث.

نحن المنتجات الرئيسية هي مقياس المنظار, دمج المجال, الطيف, مولد عرام, ESD محاكي البنادق, استقبال EMI, معدات اختبار EMC, اختبار السلامة الكهربائية, غرفة البيئة, غرفة درجة الحرارة, غرفة المناخ, الغرفة الحرارية, تجربة بخاخ الملح, غرفة اختبار الغبار, اختبار للماء, اختبار RoHS (EDXRF), اختبار توهج الأسلاك و  اختبار لهب الإبرة.

لا تتردد في الاتصال بنا إذا كنت بحاجة إلى أي دعم.
قسم التكنولوجيا: Service@Lisungroup.com، Cell / WhatsApp: +8615317907381
قسم المبيعات: Sales@Lisungroup.com، Cell / WhatsApp: +8618117273997

العلامات:EMI-9KB